检测产品
电阻、电容、电感、射频微波元件、片式衰减器等被动器件
单层芯片电容高速三合一测试设备
2面/6面/7面外观检测
绝缘电阻可测量值＞1TΩ，重复性精度≤20%
并联电容重复性精度达到10pF以上≤±0.3%、10pF以下≤±0.03pF
设备UPH达到6K
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模块化
设备采用模块化设计，所有结构可任意搭配组合,当易损件损坏，可实现快速换型
高精度
采用高精度模块设计搭配日本进口DD马达确保稳定性和高UPH产出，运动控制全伺服电机驱动，定位精度可达0.01mm
产品防护
除电测工位外，其余交接均采用隔空交接，避免对产品表面造成刮伤/划伤。
外观检测
成熟视觉检测框架搭配AI检测技术，CCD自动对焦，助力客户实现各种缺陷的检测需求0.01mm
数据管理系统
数据统计、图像和数据完全存储可历史追溯；配方可一键存取、快速切换不同规格产品
单层芯片电容高速三合一测试设备
设备采用模块化设计，所有结构可任意搭配组合
上料方式：
诺顶智能具体适用于不同产品的上料方式，
以最适合的方式进行产品入料。
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视觉系统（选配）
诺顶智能具体适用于不同产品的视觉系统（选配），
以最适合的方式进行外观检测。
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电测系统
诺顶智能具体适用于不同产品的电测系统， 以最适合的方式进行电性能测试。
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下料系统（选配）
诺顶智能具体适用于不同产品的下料系统， 以最适合的方式进行产品下料。
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微观瑕疵 无所遁形
微观瑕疵 无所遁形
选用国内外知名品牌工业相机配合高清镜头，通过高精度造动模组精准采集产品的检测面图像，运用自研视觉检测算法将产品的缺陷一一检出
核心技术及优势
半导体标准平台，通用性强，稳定性高；定制化光学成像方案，自动过滤背景干扰，准确识别检测区域；标准仪表搭配成熟的电测系统框架，稳定成熟可靠；
技术规格
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操作参数operation parameters
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上料类型
振动盘/六英寸蓝膜扩晶
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最小上机产品尺寸
10型 0.254mmX0.254mmX0.1mm
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下料方式
散料／蓝膜／华夫盒／自粘盒／缩带
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视觉系统vision system
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视觉算法
成熟传统算法框架+AI检测技术
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外观检测
2面/6面/7面外观检测
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检测精度
识别精度≥10μm
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光源模块
定制组合光源
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电测参数Electrical measurement parameters
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并联电容Cp
重复性精度10pF以上≤±0.3%、10pF以下≤±0.03pF
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损耗系数D
重复性精度≤±0.001
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绝缘电阻IR
可测量值＞1TΩ，重复性精度≤20%
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耐压测试
可测量值＞1TΩ，重复性精度≤20%
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下料参数Cutting parameters
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蓝膜
摆盘角度偏差≤5°、摆盘最小间距0.1mm
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华夫盒
单边间隔≥0.03mm
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摆盘成功率
≥97%
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规格Specifications
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设备空转UPH
60K
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数据系统
实时数据监控统计、检测数据保存、导出等功能
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输入电源/压缩空气
三相380V/0.5Mpa±0.1Mpa
